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您當前的位置： X射線熒光分析儀介紹
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X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。
X射線熒光光譜儀分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。 X射線熒光光譜（XRF）具有干擾小、分析速度快、并且可以同時進行多元素分析等優點，是固體物質成分分析的常規檢測手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。
X射線熒光分析儀應用領域
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RoHS檢測：
有毒金屬檢測
廢舊金屬回收
貴金屬檢測
測試須知
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1.粉末樣品需提供3-5g，樣品粒度小于200目，完全烘干，送樣前請確保樣品量滿足要求；
2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其它合金不小于1mm，其它材料厚度需滿足3-5mm；
3.檢測單元表面盡量平整，整塊的固體樣品，當樣品尺寸直徑在29mm~50mm，高度在30mm以下，可以直接測試。當樣品尺寸直徑在24mm以下，高度在20mm以下，需放入樣品池后置入固體樣品盒，在真空環境中進行測試。
4.粉末樣品可能會使用硼酸壓片；
5.有效元素測試范圍：13Ai~92U。
