專注于工業(yè)CT檢測\失效分析\材料檢測分析的第三方實驗室
公正高效 \ 精準(zhǔn)可靠 \ 費用合理
您當(dāng)前的位置： | 掃描電鏡SEM檢測 | SEM-EDS分析 |
掃描電鏡SEM檢測
————————————————————————————————————————————————————
掃描電子顯微鏡是目前常見的用于表面形貌觀察的分析技術(shù)。具有高分辨率，較高的放大倍數(shù)；景深效果好，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；試樣制備簡單；配有X射線能譜儀裝置，可同時進(jìn)行形貌觀察和微區(qū)成分分析。 通過掃描電子顯微鏡觀察材料表面形貌，為研究樣品形態(tài)結(jié)構(gòu)提供了便利，有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，改善工藝。 觀察的主要內(nèi)容是分析材料的幾何形貌、材料的顆粒度、及顆粒度的分布、物相的結(jié)構(gòu)等。 |   |
SEM電鏡測試應(yīng)用范圍
————————————————————————————————————————————————————
主要用于復(fù)合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、生物材料、電子材料等塊體、片狀、薄膜樣品的微觀形貌分析及其成份的定性、半定量分析。
（1）材料范圍：除磁性材料之外的任何無機材料，包括粉體、薄膜和塊材；不適用于有機和生物材料。
（2）表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區(qū)組成、元素分布、元素價態(tài)和化學(xué)鍵、晶體結(jié)構(gòu)、相組成、結(jié)構(gòu)缺陷、晶界結(jié)構(gòu)和組成等。
SEM掃描電鏡檢測示例
————————————————————————————————————————————————————
SEM/EDS設(shè)備展示
————————————————————————————————————————————————————
|
|
送樣須知
————————————————————————————————————————————————————
粉末樣品基本要求
（1）單顆粉末尺寸建議小于1μm；
（2）無磁性；
（3）以無機成分為主，否則會造成電鏡嚴(yán)重的污染，高壓跳掉，甚至擊壞高壓槍；
塊狀樣品基本要求
（1）需要電解減薄或離子減薄，獲得幾十納米的薄區(qū)才能觀察；
（2）如晶粒尺寸小于1μm，也可用破碎等機械方法制成粉末來觀察；
（3）無磁性；
 |
設(shè)立專業(yè)的實驗室數(shù)十個，檢測項目全
設(shè)立了無損檢測、掃描電鏡儀器分析、化學(xué)分析、物理分析、切片與金相測試，環(huán)境 可靠性測試等眾多實驗室，為您提供—站式材料檢測，失效分析及檢測報告。 |
|
擁有價值千萬進(jìn)口檢測設(shè)備，讓產(chǎn)品檢測/分析更高效
24小時服務(wù)，讓您的產(chǎn)品擁有更快的檢測速度；為您解決產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、貿(mào)易過 程中產(chǎn)生與材料相關(guān)的各種問題，讓您的產(chǎn)品更快的走進(jìn)市場。 |
|
配備10+年經(jīng)驗的碩博檢測團(tuán)隊為您服務(wù)
實驗室以中科院自動化研究所、北京航天航空大學(xué)為依托，以具備豐富產(chǎn)業(yè)經(jīng)驗的本 地團(tuán)隊為主體，開展電子可靠性前沿基礎(chǔ)研究、應(yīng)用推廣、失效分析、設(shè)計改善，提 升粵港澳大灣區(qū)電子產(chǎn)業(yè)可靠性水平。 |
相關(guān)產(chǎn)品：
