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您當前的位置： 元器件假冒翻新鑒定
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翻新電子元器件是指將淘汰的、使用過的、低質量等級的或制造過程中的廢次品、假冒品,甚至是不同型號或功能的產品,經特殊處理,掩蓋原有形貌特征,并采用印刷或激光打標的方式,印刻同一廠家、同型號，甚至是同批次的標識，作為新產品重新投入市場銷售。電子元器件的更新速度較快，加上近年芯片緊缺,因此，市場上有充足的淘汰電子元器件可供翻新使用。
電子元器件翻新的資金投入少,技術含雖低、銷售后能帶來高額利潤，使得不法分子翻新偽造電子器件產品。隨著電子和信息技術的快速發展,包括集成電路在內的電子元器件更新換代周期變短，導致元器件用戶的供應鏈管理出現困難，即原設計使用的元器件或集成電路可能已經停產，特別是對元器件用量少、品利多、可靠性要求高的部件或整機廠家而言,由于采購量小不能直接從生產廠商采購，必須通過代理商進行采購，從而給翻新器件提供了進入產業鏈的機會。如翻新器件進入軍品供應鏈，已經嚴重影響裝備的質量與可靠性。因此，鑒別所購進口元器件是否為翻新產品是軍品檢驗不可或缺的重要環節。
元器件假冒翻新鑒定對象
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電阻器；電容器；磁珠；電感器；變壓器；晶體振蕩器；晶體諧振器；繼電器；半導體分立器件（二極管、三極管、場效應管、達林頓陣列、半導體光電子器件等）；電連接器；開關及面板元件；半導體集成電路（時基電路、總線收發器、緩沖器、驅動器、電平轉換器、門器件、觸發器、LVDS線收發器、運算放大器、電壓調整器、電壓比較器、電源類芯片（穩壓器、開關電源轉換器、電源監控器、電源管理等）、數模轉換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、控制器等）；濾波器；電源模塊；IGBT等。
元器件假冒翻新鑒定測試標準
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目的：對產品來源存在疑慮，驗證是否是原廠、翻新器件。 依據：標準SAE AS6081-2012。
元器件假冒翻新鑒定實例———————————————————————————————————————————————————————————
芯片鑒定測試須知———————————————————————————————————————————————————————————
1、測試所需：芯片規格書，芯片必須為同一個生產批次
2、測試周期：5-7個工作日內
3、可根據客戶需求提供中文報告或英文報告
