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華南檢測新聞|日立超高分辨率冷場掃描電鏡投入運營
發(fā)布日期：2022-06-17閱讀量：2931
本月，公司新購的全新日立SU8220冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡開始安裝調(diào)試運營，并依據(jù)設(shè)備采購合同所詳列的各項內(nèi)容，逐項對設(shè)備的各項功能及技術(shù)指標進行現(xiàn)場檢測。最終，經(jīng)試運行，設(shè)備性能穩(wěn)定，技術(shù)指標達到合同要求，設(shè)備及其配件以及相關(guān)操作說明資料齊全，設(shè)備各功能及性能指標的測試結(jié)果均符合合同要求。
該設(shè)備的性能指標如下：分辨率： 0.8nm（加速電壓15KV，工作距離4.0mm），1.1nm（著陸電壓1KV，工作距離1.5mm，減速模式），放大倍率：20--100萬倍，可研究納米尺度的微觀形貌；配置X-MaxN牛津能譜儀，晶體有效采集面積不小于150mm2，能譜分辨率達125eV，可以分析10納米左右的微區(qū)元素成份。
至此，我公司電鏡實驗室又添新成員，該設(shè)備的購置將為更多院校、科研機構(gòu)，企業(yè)提供更優(yōu)質(zhì)的SEM、EDS電鏡檢測服務(wù)。
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