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PCB/PCBA失效分析


金屬材料及零部件失效分析電子元器件失效分析

高分子材料失效分析

復(fù)合材料失效分

涂/鍍層失效分析


涂/鍍層失效分析

———————————————————————————————————————————————————————————涂/鍍層材料因其高性能、高功能化、智能化和綠色化等特點,在工業(yè)中廣泛應(yīng)用。然而,由于技術(shù)要求高和產(chǎn)品要求嚴(yán)格,涂/鍍層可能會因為多種原因出現(xiàn)失效,如分層、開裂、腐蝕、變色等,這些失效不僅影響產(chǎn)品的外觀和性能,還可能引發(fā)經(jīng)濟糾紛和安全問題。因此,失效分析成為了確保涂/鍍層材料可靠性和安全性的關(guān)鍵步驟。

涂/鍍層失效分析.jpg


涂/鍍層主要失效模式(但不限于)

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分層:涂/鍍層與基材或底層涂/鍍層之間的粘附力不足導(dǎo)致分離。


開裂:涂/鍍層因材料內(nèi)部應(yīng)力或外部環(huán)境影響出現(xiàn)裂紋。


腐蝕:環(huán)境因素導(dǎo)致涂/鍍層材料發(fā)生化學(xué)或電化學(xué)腐蝕。


起泡:涂/鍍層下積聚氣體或液體導(dǎo)致表面形成氣泡。


涂/鍍層脫落:涂/鍍層從基材上完全剝離。


變色失效:涂/鍍層顏色發(fā)生變化,影響其裝飾或保護(hù)功能。


涂/鍍層失效分析



國家認(rèn)可資質(zhì)背書

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華南檢測


1650445105342495.jpg華南檢測專注鍍層涂層失效分析失效分析與故障歸零領(lǐng)域十余年,擁有國家認(rèn)可CNAS/CMA認(rèn)證實驗室,匯聚擁有10+年經(jīng)驗專家團(tuán)隊,累計完成超1000+案例。依托高精度檢測設(shè)備與全流程技術(shù)方案,精準(zhǔn)定位失效根源,助力企業(yè)快速止損,保障產(chǎn)品可靠性!


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實力

CNAS/CMA雙認(rèn)證實驗室,報告全國認(rèn)可,助您提升品牌口碑

出具權(quán)威檢測報告,明確責(zé)任歸屬,減少糾紛成本。

SEM/EDS精準(zhǔn)分析鍍層成分與厚度,XRD檢測晶體結(jié)構(gòu)異常,鎖定失效根源。

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謹(jǐn)慎

72小時完成檢測,加急服務(wù)至快24小時出具初報告

48小時內(nèi)定位失效點,提供根因報告+改進(jìn)方案,快速止損。


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團(tuán)隊

10+年經(jīng)驗工程師團(tuán)隊,配備SEM/EDS/X-Ray等千萬高端設(shè)備,準(zhǔn)確率99%

鹽霧試驗(72-1000小時)、附著力劃格測試、耐磨性檢測,模擬真實失效環(huán)境。


檢測項目

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●成分分析:傅里葉紅外光譜儀(FTIR)、顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)、掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、X射線熒光光譜分析(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)、裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(PGC-MS)、核磁共振分析(NMR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、X射線衍射儀(XRD)、飛行時間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)。

熱分析:差示掃描量熱法(DSC)、熱機械分析(TMA)、熱重分析(TGA)、動態(tài)熱機械分析(DMA)、導(dǎo)熱系數(shù)(穩(wěn)態(tài)熱流法、激光散射法)。

斷口分析:體式顯微鏡(OM)、掃描電鏡分析(SEM)

物理性能:拉伸強度、彎曲強度等

模擬試驗(必要時):在同樣工況下進(jìn)行試驗,或者在模擬工況下進(jìn)行試驗。


失效分析流程

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(1)失效背景調(diào)查:產(chǎn)品失效現(xiàn)象?失效環(huán)境?失效階段(設(shè)計調(diào)試、中試、早期失效、中期失效等等)?失效比例?失效歷史數(shù)據(jù)?

(2)非破壞分析:X射線透視檢查、超聲掃描檢查、電性能測試、形貌檢查、局部成分分析等。

(3)破壞性分析:開封檢查、剖面分析、探針測試、聚焦離子束分析、熱性能測試、體成分測試、機械性能測試等。

(4)使用條件分析:結(jié)構(gòu)分析、力學(xué)分析、熱學(xué)分析、環(huán)境條件、約束條件等綜合分析。

(5)模擬驗證實驗:根據(jù)分析所得失效機理設(shè)計模擬實驗,對失效機理進(jìn)行驗證。

注:失效發(fā)生時的現(xiàn)場和樣品務(wù)必進(jìn)行細(xì)致保護(hù),避免力、熱、電等方面因素的二次傷害。




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