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如何進行元器件的篩選呢,有哪些篩選的項目呢?

發(fā)布日期:2023-03-02閱讀量:816
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  • 元器件常常會存在假冒偽劣產(chǎn)品,難以確保其質(zhì)量和可靠性,為了確保產(chǎn)品在正式投入應用的時候排除存在可能性的元器件問題,需要對元器件進行嚴格的篩選,如何進行元器件的篩選呢,有哪些篩選的項目呢?

     如何進行元器件的篩選呢,有哪些篩選的項目呢?

    一、振動和沖擊試驗

    對產(chǎn)品進行振動和沖擊試驗,這項試驗意在模擬產(chǎn)品在使用的過程中會受到的振動、沖擊環(huán)境,能夠有效的在模擬過程中找到不良偽劣元器件的各種故障問題,發(fā)現(xiàn)元器件的虛焊、漏焊等多種故障,該項試驗對于一些精密電子設備來說是一項重要的篩選項目。

     

    二、恒溫試驗

    電子元器件的失效大多數(shù)的情況是因為其內(nèi)在的或表面的各種物理化學多種情況引發(fā)的,都與溫度有著多多少少的聯(lián)系。元器件在高溫的環(huán)境中,失效的進程一會被加速,對應的物理化學反應的加速,使得其缺陷的元器件能夠及早的暴露出來,便于剔除。該項篩選常常應用在半導體元器件上,通常會持續(xù)在高溫儲存1天到1周之久,能夠有效剔除譬如鍵合不良、氧化層缺陷等各種失效機理的元器件。通過高溫貯存后,還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來,減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應力和篩選時間要適當選擇,以免產(chǎn)生新的失效機理。

     

    三、高低溫試驗

    電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到各種不同的環(huán)境,在不同的環(huán)境條件下,會受到熱的冷的環(huán)境,在熱脹冷縮的作用之下,性能較差的元器件就會出現(xiàn)產(chǎn)生各種失效機理,因此能夠通過該種試驗來讓產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下的熱脹冷縮的變化,進行產(chǎn)品的篩選,有效的剔除存在性能缺陷的產(chǎn)品,通常的元器件篩選溫度在-55℃至+125℃的環(huán)境下,循環(huán)試驗5-10次。

     

    四、離心加速度試驗

    離心加速度試驗又稱恒定應力加速度試驗。這項篩選通常在半導體器件上進行,把高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件上,可以剔除鍵合強度過弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件,通常選用離心加速度20000g而且持續(xù)試驗一分鐘。

     

    五、電性能試驗

    各種電子元器件需要在額定功率條件下試驗數(shù)小時至一周時間。各種元器件的電應力要適當選擇,可以等于或稍高于額定條件,但不能引入新的失效機理。在熱電應力的共同作用下,能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷,它是可靠性篩選的一個重要項目。


    通過各項目的篩選也能夠幫助我們辨別產(chǎn)品的優(yōu)劣,防止我們購買到偽劣的元器件,影響到后續(xù)生產(chǎn)品的質(zhì)量。在經(jīng)過元器件篩選后的產(chǎn)品,產(chǎn)品的可靠性水平顯著提高,標準狀況下使用,產(chǎn)品會產(chǎn)生的失效率會大大降低,產(chǎn)生更為可觀的收益。


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