FTIR在元器件假冒翻新鑒定中的應(yīng)用
電子元器件市場魚龍混雜,對于元器件采購來說,最怕的就是買到假貨。說到元器件的真假,無非就是需要辨別一下,元器件是原裝貨還是散新貨。這里所說的散新貨,就是翻新件或是拆機(jī)件,是經(jīng)過處理再加工的器件,所以行業(yè)人一般稱之為散新貨。同一樣的價格,誰都想買到新的,全新功能的器件,所以這就需要一些常識來辨別哪些是原裝新貨。如果同一塊板子,一模一樣的電路,焊接完之后,卻有不同的上電現(xiàn)象和效果,那可能就是采購的這批貨有問題。
本文主要針對FTIR顯微紅外光譜技術(shù)在元器件假冒翻新鑒定中的應(yīng)用作簡要淺析,F(xiàn)TIR顯微紅外光譜分析是顯微分析和紅外光譜分析結(jié)合在一起的分析方法,它利用不同材料(主要指有機(jī)物和大部分無機(jī)化合物)對紅外光譜的不同吸收原理,結(jié)合顯微放大找出污染物的位置和形貌,分析污染物的化學(xué)成分。FTIR顯微紅外光譜技術(shù)在眾多領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用,如電子電路、光學(xué)顯示和成像、醫(yī)藥研制、物證鑒定、生命科學(xué),食品安全等領(lǐng)域,發(fā)揮重要的作用。
首先,我們介紹一下紅外光譜基礎(chǔ)理論知識。
一)光的分布
光的波長分布如圖1,其中紅外光波長在10-6~10-3 m之間。
二)紅外光譜產(chǎn)生原理
根據(jù)物理化學(xué)基本概念,分子是運(yùn)動的,當(dāng)物質(zhì)的分子在接收到紅外光時,分子會發(fā)生對光能量的吸收,分子獲得能量后產(chǎn)生不同的效應(yīng):a)電子激發(fā)、b)分子振動、c)分子轉(zhuǎn)動,不同效應(yīng)對應(yīng)不同范圍的分子光譜。

三) 紅外譜圖解析
1、特征峰
分子中某一特定基團(tuán)的某一振動方式其頻率總是出現(xiàn)在有相對窄的區(qū)域,而分子的剩余部分對其影響較小。在不同分子中該基團(tuán)振動頻率基本上是相同的,這種可用于鑒定基團(tuán)存在,具有一定強(qiáng)度的吸收峰稱為特征峰,其所在位置稱為基團(tuán)特征頻率。
例如: -CH3, -CH2 的伸縮振動頻率在3000 cm-1~2800cm-1范圍,
C=O 的伸縮振動頻率在1800 cm-1~1650 cm-1 范圍。
2、相關(guān)峰
一組具有相互依存關(guān)系的特征峰。
例如:-CH=CH2 的ν= CH2 ~3085 cm-1
νC= C 1680 cm-1~1620 cm-1
當(dāng)分子結(jié)構(gòu)變復(fù)雜時,分子間的相互作用也越來越復(fù)雜,所以也將產(chǎn)生更復(fù)雜的光譜圖,一般若需要對一張未知物成分譜圖進(jìn)行特征峰判別鑒定,需要具備專業(yè)的有機(jī)化學(xué)基礎(chǔ)和紅外光譜特征基團(tuán)知識儲備,本文不作這部分的詳細(xì)闡述。
常見的FTIR顯微紅外光譜分析儀出廠自帶基礎(chǔ)物質(zhì)譜圖數(shù)據(jù)庫,而設(shè)備使用方可以自建本地數(shù)據(jù)庫,根據(jù)自身需求,用已知物質(zhì)制作標(biāo)準(zhǔn)譜圖建數(shù)據(jù)庫;對未知物質(zhì)進(jìn)行鑒定時,可以拉出本地自建數(shù)據(jù)庫進(jìn)行檢索,快速對未知物質(zhì)進(jìn)行判別。
舉例,某款芯片做假冒翻新鑒定,對芯片側(cè)面透明殘留物進(jìn)行紅外光譜檢測,檢測結(jié)果殘留物為松香(助焊劑),匹配度達(dá)96.19%,證明該芯片有被使用過,非全新芯片


測試儀器:傅里葉紅外光譜儀 ThermoFisher Nicolet iN10
本文對紅外光譜基礎(chǔ)理論、FTIR顯微紅外光譜技術(shù)元器件假冒翻新鑒定應(yīng)用兩個方面進(jìn)行了簡單介紹,并結(jié)合典型案例闡述了該方法,希望能讓讀者對FTIR紅外光譜技術(shù)和其在元器件假冒翻新鑒定領(lǐng)域的應(yīng)用有所了解。
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